低频S参数测量的方法技术

本公开涉及与测试和测量系统相关的系统和方法，并且特别地涉及表征用于测试和测量系统的测试和测量探头的性能。方法确定被测设备针对第一频率范围的散射参数S参数。该方法包括接收被测设备针对第二频率范围的S参数，所述第二频率范围大于所述第一频率范围。一般而言，被测设备针对第二频率范围的S参数可以使用已知的方法来确定。该方法进一步包括测量被测设备的实际响应，确定被测设备的期望信号，以及基于针对第二频率范围的S参数、被测设备的实际响应和被测设备的期望信号，确定被测设备针对第一频率范围的S参数。

【技术实现步骤摘要】
低频S参数测量的方法优先权本公开要求与2019年6月6日提交的题为“LOWFREQUENCYS-PARAMETERMEASUREMENTANDESTIMATION（低频S参数测量和估计）”的美国临时申请第62/858,271号的权益，该美国临时申请被通过引用以其整体并入本文。
本公开涉及与测试和测量系统相关的系统和方法，并且特别地涉及表征用于测试和测量系统的测试和测量探头的性能。
技术介绍
可以例如通过向量网络分析仪（VNA）来测量被测设备（诸如探头）在f1至f2的频率范围中的一组散射参数（S参数）。典型地，VNA可以在其处充分测量S参数的最低频率是25MHz。典型地，当测量S参数时，探头被附接到夹具。夹具的S参数可以被单独获得，并且然后可以获得探头与夹具组合的S参数。探头的S参数通过从所获得的夹具与探头组合的S参数中去嵌入夹具来确定。该方法在f1至f2的频率范围中对大多数探头很好地起作用。然而，随着用于双倍数据速率（DDR）存储器测量的插入器的出现，探头的尖端电阻器已经被移动到具有其自己的一组S参数的插入器电路上。探头本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于确定被测设备针对第一频率范围的散射参数S参数的方法，包括：/n接收所述被测设备针对第二频率范围的S参数，所述第二频率范围大于所述第一频率范围；/n测量所述被测设备的实际信号；/n确定所述被测设备的期望信号；以及/n基于针对所述第二频率范围的S参数、所述被测设备的实际信号和所述被测设备的期望信号，确定所述被测设备针对所述第一频率范围的S参数。/n

【技术特征摘要】
20190606 US 62/858271;20200529 US 16/8884431.一种用于确定被测设备针对第一频率范围的散射参数S参数的方法，包括：
接收所述被测设备针对第二频率范围的S参数，所述第二频率范围大于所述第一频率范围；
测量所述被测设备的实际信号；
确定所述被测设备的期望信号；以及
基于针对所述第二频率范围的S参数、所述被测设备的实际信号和所述被测设备的期望信号，确定所述被测设备针对所述第一频率范围的S参数。


2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：
基于所接收的针对第二频率范围的S参数来确定针对第一频率范围的第一S参数的起始值；以及
基于所述起始值确定被测设备针对所述第一频率范围的S参数。


3.根据权利要求2所述的方法，其中确定被测设备针对第一频率范围的S参数包括在多个轮次内迭代地确定针对第一频率范围的第一S参数和第二S参数，直到预定轮次数完成。


4.根据权利要求3所述的方法，其中在第一轮次期间，使用第一S参数的起始值来确定第二S参数，在每个后续偶数编号轮次期间，使用在前一奇数编号轮次期间确定的经更新的第二S参数来确定第一S参数，并且在每个后续奇数编号轮次期间，使用在前一偶数编号轮次期间确定的经更新的第一S参数来确定第二S参数。


5.根据权利要求1所述的方法，其中确定被测设备针对第一频率范围的S参数包括确定被测设备针对第一频率范围的差分S参数，并将所述差分S参数转换为单端S参数。


6.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：
对实际信号和期望信号中的每一个进行重新采样以匹配记录长度；以及
将重新采样的实际信号和重新采样的期望信号转换到频域。


7.根据权利要求6所述的方法，进一步包括调整经转换的重新采样实际信号和经转换的重新采样期望信号的群延迟，以匹配被测设备的群延迟。


8.根据权利要求1所述的方法，进一步包括在被测设备的存储器中存储被测设备针对第一频率范围的S参数。


9.根据权利要求1所述的方法，其中第一频率范围在零赫兹与25兆赫兹之间。


10.一种测试和测量系统，包括：
阶跃发生器，被配置为生成阶跃信号；
测试和测量仪器，被配置为基于所述阶跃信号测量被测设备的实际响应；以及
一个或多个处理器，被配置为：
确定被测设备的期望信号，以及
基于所接收的被测设备针对大于第一频率范围的第二频率范围的S参数、被测设备的实际响应和被测设...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·J·皮克，谈侃，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：美国;US