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本发明公开了一种具有翻转结构便于双面检测的电子芯片裂缝检测装置，涉及电子芯片检测技术领域，包括机体、工作台和承托机构，所述机体的下方安装有机柜，且机柜的外侧设置有柜门，所述工作台固定于机柜的上方，且工作台的外侧固定有支撑柱，所述支撑柱的上方...
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