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本发明提供一种X射线分析装置和峰搜索方法。峰搜索处理包括粗动扫描处理(S230)和微动扫描处理(S260)。粗动扫描处理(S230)获取关于第一波长范围的轮廓。微动扫描处理(S260)获取关于第二波长范围的轮廓，该第二波长范围包括通过粗动扫...
该专利属于株式会社岛津制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社岛津制作所授权不得商用。

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