温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请公开了一种缺陷检测的方法，包括：采用低能量激光且沿预设路径对检测对象的待检测区域进行激光照射，在沿预设路径对待检测区域进行激光照射的同时，采集散射光信息，根据沿预设路径进行激光照射时产生的散射光信息的变化情况确定待检测区域中是否存在缺...
该专利属于华为技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华为技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。