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本发明涉及用于校正由光学传感器检测到的主测量信号的方法。该方法包括：提供具有光源、有源传感器层、光学检测器和控制单元的光学测量装置，其中，控制单元被连接到光源和光学检测器；从光源向有源传感器层发射第一光信号，使得有源传感器层被激励并向光学检...
该专利属于恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司授权不得商用。

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