下载半导体晶棒测试装置的技术资料

文档序号:26636195

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本实用新型提供半导体晶棒测试装置,包括工作台,所述工作台顶部正面的中心处放置有键盘,所述工作台顶部正面的右侧放置有鼠标,所述工作台顶部的四周均栓接有安装架,所述安装架顶部的右侧放置有电脑主机,所述安装架顶部的中心处放置有显示屏,所述显示屏的...
该专利属于常山县万谷电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过常山县万谷电子科技有限公司授权不得商用。

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