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本实用新型公开了一种晶片测试头，包括：一座体，内部设有一光通道及一气道，底部设有一接触垫，气道连通光通道能产生负压吸力，接触垫具有一窗口，窗口为光通道出口；一光源，设置于座体内，面对光通道投射光线至窗口；藉此座体以接触垫与晶片接触，达到能取...
该专利属于苏州艾方芯动自动化设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州艾方芯动自动化设备有限公司授权不得商用。

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