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本实用新型公开了一种适用于芯片的测试治具，包括基座，所述基座的上部开设有芯片槽，所述芯片槽的左右两侧均设有销孔，所述销孔设有配合连接的销钉，所述基座上设有第一感应槽，其设置于芯片槽的后侧并和芯片槽连接，所述基座上设有第二感应槽，其设置于芯片...
该专利属于苏州辉垦电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州辉垦电子科技有限公司授权不得商用。

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