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一种测距装置，由装置底部至顶部形成轴向并且依序包括基座、旋转件以及测距模块。该基座包括第一外周壁以及第一阻隔圈，其中，该第一外周壁沿着该轴向延伸而出，该第一阻隔圈位于该第一外周壁的内围，并沿着该轴向延伸而出，而该第一外周壁与该第一阻隔圈之间...该专利属于亚洲光学股份有限公司;信泰光学(深圳)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过亚洲光学股份有限公司;信泰光学(深圳)有限公司授权不得商用。