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本发明涉及一种X射线发射系统及检测系统，属于X射线检测技术领域。其中检测系统包括：舱体和第一探测器阵列，舱体内设有用于发射一束主射线和一束旁束射线的X射线源、用于限定主射线辐射的范围的准直器和用于采集旁束射线的辐射强度的旁束射线强度检测装置...
该专利属于上海瑞示电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海瑞示电子科技有限公司授权不得商用。

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