专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
江苏天瑞仪器股份有限公司
>
一种高分辨率的半导体核辐射探测器制造技术
>技术资料下载
下载一种高分辨率的半导体核辐射探测器的技术资料
文档序号:2657230
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种高分辨率的半导体核辐射探测器,包括高纯的N型半导体硅片、探测本征区、点状N型阳极、P型漂移电极和第一级场效应管,半导体硅片(即基片)为圆形,探测本征区由均匀的位于所述高纯N型半导体硅片的射线入射面的P-N结组成,点状的N型阳极位于相对面...
该专利属于江苏天瑞仪器股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过江苏天瑞仪器股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。