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本发明提供一种半导体装置。具有配置在半导体集成电路内的相互不同的第1对象位置及第2对象位置的第1温度检测元件及第2温度检测元件(D1、D2)，使用第1温度检测元件及第2温度检测元件生成与第1对象位置的温度和第2对象位置的温度的温度差对应的温...
该专利属于罗姆股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过罗姆股份有限公司授权不得商用。

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