温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种MOM结构，其用于半导体可靠性测试，包括：n个焊垫和(n‑2)个MxMx结构；第一焊垫至第(n‑1)个焊垫每个焊垫对应连接一个MxMx结构,所有MxMx结构并联在第一焊垫和第n个焊垫之间，每个MxMx结构串联有一个单向导通器...
该专利属于上海华力集成电路制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力集成电路制造有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。