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本发明提供一种界面关系判断方法及装置，该方法包括：获取两相晶体结构；根据两相晶体结构选取两相晶面；根据两相晶面计算界面错配度；根据界面错配度判断界面关系。本发明通过获取两相晶体结构，选取两相晶面，根据错配度计算公式计算错配度，从而判断两相界...
该专利属于广东省材料与加工研究所所有，仅供学习研究参考，未经过广东省材料与加工研究所授权不得商用。

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