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本发明漏磁检测表征缺陷宽度的方法，该方法利用轴向漏磁变化率的极值点间的轴向距离来表征缺陷宽度，从信号的变化率角度进行考虑，轴向漏磁相对其他两个分量受提离距离影响程度低，在不同提离距离下时，获得的缺陷宽度差距较小，精度较高。本方法不受缺陷深度...
该专利属于河北工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过河北工业大学授权不得商用。

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