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一种可更换测试弹簧的芯片测试座，它属于电子测试技术领域，特别是集成电路芯片测试技术领域，它包括一个设置在测试电路板上的框体，在框体中排列有数个测试孔，在部分测试通孔中设置有测试弹簧；其特征在于在所述的测试孔中设置一个弹簧支撑针，弹簧支撑针的...
该专利属于唐中卫所有，仅供学习研究参考，未经过唐中卫授权不得商用。

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