【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种可更换测试弹簧的芯片测试座，它属于电子 测试
，特别是集成电路芯片测试
技术背景现有的用于集成电路芯片测试的是一种治具座，在这种治具座中 设置有探针，利用连接在弹簧上的探针进行测试。但是这样测试设备 存在如下的问题首先，由于治具座的高度为2厘米，所以连接弹簧 的探针在治具座的针孔中会构成空隙，使得探针的导通效果不好；而 且由于探针本身的阻抗比较高，最终影响到测试效果不好，测试效果不准确。本申请人于2006年申请的中国专利申请号第 200620016150. 2号中记述了一种《集成电路芯片测试座》，它虽然实 现了稳定测试，保证测试效果的目的，但是有余在测试中会发生弹簧 烧坏的现象，而当测试弹簧被烧坏可以后，不能单独更换弹簧，因为 弹簧和底座是焊接在一起的，这样就必须连带测试底座一起换掉。因 此更换工作麻烦，降低了测试工作的效率，且也因为底座的更换提高 了测试的成本。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种结构简单，既可保证测试效果准确稳定 又可以实现测试弹簧的单独更换，提高测试效率，减少测试成本的可更换测试弹簧的芯片测试座。本技术的目...
【技术保护点】
一种可更换测试弹簧的芯片测试座，它包括一个设置在测试电路板（１）上的框体（２），在所述的框体中排列有数个测试孔（３），在所述的部分测试通孔（３）中设置有测试弹簧（４）；其特征在于在所述的测试孔（３）中设置一个弹簧支撑针（８），所述的弹簧支撑针（８）的下端与测试电路板（１）连接，上端支撑测试弹簧（４）。
【技术特征摘要】
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