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在检测薄膜磁头的方法中,准备设置了具有自由层的磁阻膜和铁磁层的薄膜磁头,该自由层的磁化方向根据外部磁场而改变,该铁磁层将一个偏置磁场加载到自由层。然后,沿着加载偏置磁场的方向将一个DC磁场加载到铁磁层。随后,沿着加载偏置磁场的方向将一个AC...该专利属于TDK株式会社;新科实业有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过TDK株式会社;新科实业有限公司授权不得商用。
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在检测薄膜磁头的方法中,准备设置了具有自由层的磁阻膜和铁磁层的薄膜磁头,该自由层的磁化方向根据外部磁场而改变,该铁磁层将一个偏置磁场加载到自由层。然后,沿着加载偏置磁场的方向将一个DC磁场加载到铁磁层。随后,沿着加载偏置磁场的方向将一个AC...