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提供一种具有高速输入输出装置的半导体集成电路装置的试验方法及试验装置，用简单的板的构成，不需要对应每个Ｉ／Ｏ规格变更测试系统而迅速地进行超过１ＧＨｚ的高速Ｉ／Ｏ的测试。在设置了用传送线路将具有高速输入输出装置（２）的半导体集成电路装置（１）...
该专利属于国立大学法人广岛大学所有，仅供学习研究参考，未经过国立大学法人广岛大学授权不得商用。

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