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一种用于测试半导体电路（１０）的方法，包括测试电路并在测试期间调节电路的阱偏置（１４，１８）。该方法通过在测试期间调节阱偏置改善了基于电压的和ＩＤＤＱ测试和诊断的分辨率。另外，该方法在应力测试中提供了更有效的应力。该方法应用于ＩＣ，其中半导...
该专利属于国际商业机器公司所有，仅供学习研究参考，未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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