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本发明公开了一种半导体构装元件的自动化测试装置，包括一工作平台、一供料单元、一输送单元、一第一测试单元、一第二测试单元，及一出料单元。该供料单元与该工作平台连接，可输出多个待测试的半导体构装元件。该输送单元架设于该工作平台上，可将该供料单元...
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