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本发明公开了一种无线数据卡辐射杂散频点测试方法。现有的无线数据卡辐射杂散频点测试过程中，工程师往往要长时间占用微波暗室一边调试一边测试，对数据卡制造厂家而言其过程耗时长，效率低，费用高。为解决上述问题，本发明包括以下步骤：（１）将插有待测数...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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