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本发明是一种可自动化进行电子元件外观检测的装置，其设有一供料匣以容纳至少一承置待测电子元件的料盘，至少一移载料盘的移载器，其将料盘移载至检测区，供检测器对料盘上的电子元件进行外观检测，完成检测后，用移载器将料盘移载至次级品交换区，而接续完成...
该专利属于鸿劲科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过鸿劲科技股份有限公司授权不得商用。

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