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本发明提供了一种ＣＭＯＳ芯片的闩锁效应测试方法和系统，应用于具有电源管脚、接地管脚、输入管脚、输出管脚及悬空焊垫的芯片，该方法可以包括：将待测芯片的电源管脚和输入管脚上电；所述输入管脚包括：时钟管脚、重启管脚、测试模式管脚，及其他处于输入状...
该专利属于北京中星微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中星微电子有限公司授权不得商用。

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