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本发明涉及一种探针，装设于一测试插座及一测试机，以进行集成电路组件的高频测试。其中，探针为一导电体，探针的一端用以接触一待测的集成电路组件，另一端用以接触一负载基板。探针在第一平面上延伸形成一本体部位，其中，探针在第一方向的惯性矩大于第一平...
该专利属于京元电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京元电子股份有限公司授权不得商用。

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