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本发明提供了一种多芯片的并行深度调试系统、调试方法、应用，并行深度调试方法，包括以下步骤：S1、多个芯片的调试数据的打包处理；S2、各个芯片的高速串行数据包输入至专用调试芯片内；S3、专用调试芯片接收并解析恢复各个芯片的调试数据；S4、多个...
该专利属于思尔芯(上海)信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过思尔芯(上海)信息科技有限公司授权不得商用。

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