温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及光学成像技术领域，本发明解决了聚焦深度测量技术中图像采集效率较低的问题，提供一种聚焦深度测量方法和测量装置。该深度测量方法包括以下步骤：液晶透镜接收第一驱动电压；将液晶透镜接收的第一驱动电压切换为第二驱动电压；响应于第一驱动电压至...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。