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一种电学法测量结型半导体发光器件光效退化参数的方法属于半导体发光器件产品的质量监控领域。半导体发光器件（发光管和激光器）的发光效率η是决定产品退化和工作寿命的重要参数。发光效率的测量通常使用光学仪器。本技术利用光效与器件温升和热阻的关系，通...
该专利属于北京工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京工业大学授权不得商用。

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