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一种高精度晶圆表面缺陷检测装置及其检测方法制造方法及图纸
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文档序号:26476880
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一种高精度晶圆表面缺陷检测装置及其检测方法,涉及晶圆检测技术领域,该高精度晶圆表面缺陷检测装置包括组合光源和成像装置,所述组合光源用于切换不同光源照射晶圆,所述成像装置用于所述组合光源照射晶圆后的图像获取。由于晶圆的缺陷的多样性,比如表面脏...
该专利属于惠州高视科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过惠州高视科技有限公司授权不得商用。
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