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本申请适用于缺陷检测技术领域，提供了一种电路板缺陷的检测方法、装置、终端设备及存储介质，该方法包括：获取待检测电路板的初始深度图像；对所述初始深度图像进行特征点提取，得到候选深度图像；对所述候选深度图像进行阈值分割，得到目标位置，其中，所述...
该专利属于深圳先进技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过深圳先进技术研究院授权不得商用。

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