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本发明涉及了一种用于定量荧光测量的校准方法及校准配件，校准方法包括以下步骤：首先测量激发光源的光源强度，测量荧光标记试剂的荧光及温度，然后测量待测物的荧光背景信号及与荧光标记试剂反应后的荧光信号及待测物的温度；通过与校准模型进行匹配，获得校...该专利属于中国科学院合肥物质科学研究院;安徽易康达光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院合肥物质科学研究院;安徽易康达光电科技有限公司授权不得商用。