一种用于定量荧光测量的校准方法及校准配件技术

本发明专利技术涉及了一种用于定量荧光测量的校准方法及校准配件，校准方法包括以下步骤：首先测量激发光源的光源强度，测量荧光标记试剂的荧光及温度，然后测量待测物的荧光背景信号及与荧光标记试剂反应后的荧光信号及待测物的温度；通过与校准模型进行匹配，获得校准参数，对待测样品荧光信号进行校准，并对荧光背景进行修正，计算得到待测成分的浓度。此外，本发明专利技术还提供了一种用于定量荧光测量的校准配件。

【技术实现步骤摘要】
一种用于定量荧光测量的校准方法及校准配件
本专利技术涉及一种用于定量荧光测量装置的校准方法及校准配件，用于生物化学、生物或者生物医学等领域中荧光标记样品的定量测量，尤其适用基于荧光标记方法的皮肤角质层成分测量。
技术介绍
荧光标记是指利用荧光物质共价结合或物理吸附在所要研究分子的某个基团上，通过研究标记的荧光特性获得被研究对象的某些信息。荧光标记具有灵敏度高，操作简便、无放射物污染等优点，在许多研究领域具有广泛的应用。然而，由于不同批次间荧光标记物荧光效率、同批次荧光标记物的荧光降解、探测器响应以及激发光源的波动、温度变化等因素均会影响测量结果，造成不同测量机构、同一测量机构不同次测量中，测量结果一致性差，测量结果之间难以比对及实现标准化，严重制约荧光标记技术的在定量测量中的应用。现有基于荧光标记测量方法中，多为定性测量，实验室之间的数据不具有可比性。而在荧光标记定量测量中，多采用配置一系列标准浓度试剂的方法，该方法耗时，操作复杂，不适宜在临床快速测量中应用。尤其是在体测量，如皮肤角质层的成分测量中，该方法未考虑温度差异影响，由于环境温本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于定量荧光测量的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：/n记录荧光激发光源的光源强度信号I1，或将光源强度调节到固定光强I，即I1＝1，得到光源修正参数K1；/n记录荧光标记试剂的荧光信号Y1及荧光标记试剂温度T1；/n记录待测物荧光背景信号Y2和荧光标记试剂反应后的荧光信号Y3及待测物测量区域的温度T2；/n然后将荧光标记试剂的荧光信号Y1及荧光标记试剂温度T1与校准模型进行匹配，得到校准参数K2；/n根据待测物温度T2和校准模型得到荧光标记试剂标准荧光信号Y，然后结合待测物荧光背景信号Y2和荧光信号Y3，对荧光信号Y3进行荧光背景修正，计算得到待测物中待测成分的浓度。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于定量荧光测量的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：
记录荧光激发光源的光源强度信号I1，或将光源强度调节到固定光强I，即I1＝1，得到光源修正参数K1；
记录荧光标记试剂的荧光信号Y1及荧光标记试剂温度T1；
记录待测物荧光背景信号Y2和荧光标记试剂反应后的荧光信号Y3及待测物测量区域的温度T2；
然后将荧光标记试剂的荧光信号Y1及荧光标记试剂温度T1与校准模型进行匹配，得到校准参数K2；
根据待测物温度T2和校准模型得到荧光标记试剂标准荧光信号Y，然后结合待测物荧光背景信号Y2和荧光信号Y3，对荧光信号Y3进行荧光背景修正，计算得到待测物中待测成分的浓度。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述荧光信号Y1、Y2和Y3为强度值信号或是波长相关的宽带光谱信号。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：光源修正参数K1通过光源强度信号I1与校准模型建立时光源强度信号即固定光强I进行比较获得，即K1＝I/I1；当光源强度调节到固定光强I时，I1＝I，光源修正参数K1＝I/I1＝1。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述校准模型的建立是通过测量不同温度条件下荧光标记试剂的荧光强度获得荧光标记试剂温度特性曲线得到的。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述校准参数K2通过以下步骤计算得到：根据测量得到的对荧光标记试剂的荧光信号Y1及温度T1获得荧光标记试剂校准参数K2＝Y1*K1-Y(T1)，其中Y(T1)为根据校准模型得到的温度T1条件下的荧光信号强度，进而得...

【专利技术属性】
技术研发人员：董美丽，倪敬书，吴鹏，王贻坤，花昌义，何腾超，钟卫帅，郭超，王霞，
申请(专利权)人：中国科学院合肥物质科学研究院，安徽易康达光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34