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本发明提供了一种用于手性分子探测的微结构，包括基底、磁性材料层和微结构层，磁性材料层置于基底上，微结构层置于磁性材料层上，微结构层包括周期性排列的微结构单元，微结构单元为非手性结构，微结构单元的材料为贵金属；应用时，在微结构层上涂覆待测手性...
该专利属于中山科立特光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中山科立特光电科技有限公司授权不得商用。

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