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本发明提供了一种上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，上盖组件包括上盖支架、镜头固定座、设于镜头固定座内的镜头、上压片固定座、上压片、设于上盖支架内的第一加热结构以及上盖电路板，上盖支架的一侧开设有镜头腔，上盖支架的另一侧开设有压片腔，镜...
该专利属于昆山晔芯电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山晔芯电子科技有限公司授权不得商用。

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