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本发明提供一种芯片检测系统和芯片检测方法，用于检测承载膜上的芯片的腔面，包括张紧装置、折弯件和检测装置，所述折弯件具有第一支撑面和第二支撑面，所述第一支撑面和第二支撑面用于支撑所述承载膜，并与所述承载膜设置有芯片的一面的反面相接触，所述张紧...
该专利属于湖北光安伦芯片有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过湖北光安伦芯片有限公司授权不得商用。

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