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本发明公开了一种集成电路芯片温度测试装置，包括四根探针，其中第三探针连接到一个模数转换器的模拟信号输入端，所述模数转换器输出的数字信号向被测试电路发送，第四探针连接外部测量仪器。本发明还公开了一种集成电路芯片温度测试方法，所述第三探针以发送...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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