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一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统技术方案
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下载一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统的技术资料
文档序号:2647427
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本发明是一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统。所述显微测量系统用渥拉斯顿棱镜作为光起偏器,把一束HeNe激光变成线偏振光,然后使线偏振光通过与其成45度夹角的光弹调制器,根据光学原理,偏振光变成50kHz调制的左右旋圆偏振光,圆偏振光照...
该专利属于中国科学院半导体研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院半导体研究所授权不得商用。
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