温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种ＪＴＡＧ链路测试方法及其装置。所述ＪＴＡＧ链路测试方法包括向ＪＴＡＧ链路置入一组全１指令码；根据所述全１指令码，选择１位移位数据寄存器连接在各个待测器件上，且所述移位数据寄存器捕获各个待测器件的状态；将包含特征码的测试向量通过...
该专利属于华为技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华为技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。