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本实用新型属于半导体技术领域，公开了一种老化测试座及老化测试装置。该老化测试座包括：底座机构；压接机构，其设置于底座机构上，压接机构被配置为承载待测试工件并能够分别电连接于待测试工件和PCB板；翻盖机构，翻盖机构转动设置于底座机构上并与其可...
该专利属于上海捷策创电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海捷策创电子科技有限公司授权不得商用。

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