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一种测试用的薄膜探针，其特征在于包括：　　　　一薄膜结构；　　　　数个导电条，其设置于该薄膜结构表面上，以连接外部测试信号；以及　　　　数个导电区，其设置于该薄膜结构表面上，且每二个导电区分别相对设置于每一该导电条的二端，每一该导电区包含数...
该专利属于环国科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过环国科技股份有限公司授权不得商用。

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