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一种ＩＣ测试治具，包括一组探针以及压板机构，其特征在于：还包括一定位板，该定位板由上板体和下板体拼合构成，定位板上设有一组贯穿上板体和下板体的探针容纳孔；各探针由上探头、下探头、套管以及至少一弹簧构成；所述上探头的头部朝上置于套管的上端，下...
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