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本实用新型是有关于一种用于电气封装体的电性测试的测试组件，其包括一测试电路板及一配设至测试电路板上的测试插座。测试插座包括一绝缘本体及多个探针。绝缘本体具有一用以承接电气封装体的接点面的承接面，并具有至少一低介电常数区，其位于这些探针的两相...
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