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一种冷冻环境ＩＣ测试机台，主要藉由一进出缓冲组件，将原处于室温环境下的待测ＩＣ置于缓冲组件处，逐渐降温至接近预定测试温度，才置放于受测环境而接受测试；并于测试完毕后，将测完的ＩＣ经缓冲组件，逐渐回温至接近室温，以避免温度的急剧升降导致ＩＣ产...
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