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本实用新型涉及测试设备技术领域，特别涉及激光芯片测试平台，测试收光装置、XY轴芯片载料台、可调节探针台、图像采集装置均通过螺栓紧固于测试设备上，并且均连接于测试设备的控制系统，测试收光装置包括光功率探测器，光功率探测器连接于测试设备的光功率...
该专利属于镭神技术(深圳)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过镭神技术(深圳)有限公司授权不得商用。

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