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本发明公开了一种预估红外探测器真空筛选试验合格率的方法，包括：对样本数据进行采集，整理得到特征量；根据整理得到的特征量，建立Logistic回归模型；采样交叉验证法，对Logistic回归模型进行训练，得到训练后的Logistic回归模型；...
该专利属于北京控制工程研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京控制工程研究所授权不得商用。

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