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PDP基板介质层特性测试装置制造方法及图纸
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文档序号:2639855
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一种PDP基板介质层特性测试装置,包括盖板(1)、承片台(3)和耐压测试仪(6),盖板(1)的一边和承片台(3)的一边相铰接,其特征是所述的盖板(1)上设有大面积导电薄膜(2)和电极引出条(201,202,203,204,205),其中电极...
该专利属于南京华显高科有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南京华显高科有限公司授权不得商用。
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