温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种集成电路芯片测试座，它属于电子测试技术领域，特别是集成电路芯片测试技术领域；其特征在于它包括一个设置在测试电路板上的框体，在所述的框体中排列有数个测试通孔，在所述的部分测试通孔中设置有测试弹簧；所述的测试弹簧的下端焊接在所述的测试电路板...
该专利属于唐中卫所有，仅供学习研究参考，未经过唐中卫授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。