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本实用新型是属半导体器件检测技术领域。其主要解决集成电路性能检测的技术问题，提供一种通用集成电路测试仪。其主要技术特征在于设计了由４４只阻值相同的电阻组成完全相同的两个集成块模拟工作条件，采用运算放大器组成了运算判断和阈值调节电路，由发光二...
该专利属于黄烨东所有，仅供学习研究参考，未经过黄烨东授权不得商用。

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