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连续波电光检测技术测量半导体激光器场分布的方法及装置：方法特征是探测激光垂直解理面透射处于工作状态的被测半导体激光器，其本身发出的激光经分离和／或滤去；装置特征是半导体激光器与检偏器间增设显微镜系统、分光和／或滤光装置，给半导体激光器设置可...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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