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本申请公开了一种校验算法的测试方法、测试装置、存储介质和家用电器，该校验算法的测试方法包括：获取校验参数和输入数据；输入输入数据和校验参数至校验单元，得到校验结果；比对校验结果与标准结果，检测并确认校验结果与标准结果一致，输出测试通过；其中...
该专利属于上海美仁半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海美仁半导体有限公司授权不得商用。

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